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集成电路测试技术

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  • 包装:平装
  • 出版社:电子工业
  • ISBN:9787121443510
  • 作者:编者:武乾文|责编:张剑//柴燕|总主编:王阳元
  • 页数:329
  • 出版日期:2022-10-01
  • 印刷日期:2022-10-01
  • 开本:16开
  • 版次:1
  • 印次:1
  • 字数:389千字