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电子元器件失效分析技术/可靠性技术丛书

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  • 包装:平装
  • 出版社:电子工业
  • ISBN:9787121272301
  • 作者:编者:恩云飞//来萍//李少平
  • 页数:453
  • 出版日期:2015-10-01
  • 印刷日期:2015-10-01
  • 开本:16开
  • 版次:1
  • 印次:1
  • 字数:619千字